為研究真空比對標準裝置的性能，減少真空計量過程的不確定度。通過實驗對真空比對標準裝置的極限真空度、漏率、動態穩定度和體積膨脹比進行了研究，分析了該裝置的不確定度影響因素。針對標準裝置僅能手動操作、真空規計量過程復雜、人工數據處理繁瑣的情況，基于Labview　8.2開發平臺，依據真空比對校準裝置的基本工作原理和真空規檢定/校準規程規范，開發了真空規檢定/校準程序，覆蓋了各種真空規的檢定/校準，給出一種多個被檢器并行計量的模塊化結構，實現數據的自動處理，原始記錄和證書的批量生成。

　　近30年來國內外在真空計量方面做了大量工作，真空比對裝置作為工作標準得到廣泛應用。真空比對標準裝置用于真空度測量儀器的檢定/校準，將態比對法、靜態比對法和靜態膨脹法三種方法復合在一套裝置上，以滿足拓寬量程的要求從而對真空規進行檢定/校準。動態比對法是用面密封微調閥將一恒定的氣體流量注入校準室中，當注入的氣體和抽走的氣體達到穩定的動平衡時，用二等標準電離真空計或磁懸浮轉子真空計、被校真空計同時測量校準室中的壓力，然后將所測得結果直接比對。靜態比對法是當系統的本底滿足要求后，關閉閘板閥，用微調閥將所需壓力注入到校準室中，待校準室中的壓力平衡后，用電容規和被校真空計同時測量校準室中的壓力，然后將所測得結果直接比對。靜態膨脹法是基于玻意爾-馬略特定律，克努曾于1910年最早提出膨脹法壓力校準系統的研究。真空計量的自動化是目前真空計量發展的方向，Labview是一種程序開發環境，由美國國家儀器(NI)公司研制開發的，類似于C和BASIC開發環境。近年來，由于Labview的便捷性在真空計量領域得到越來越廣泛的應用。

1、真空比對標準裝置

　　該裝置原理圖如圖1所示，校準室采用不銹鋼材質的球形容器，球形容器內最容易建立起均勻的分子流場，為了保證參考標準規和被校規面對相同的真空條件，校準室按對稱結構設計，氣體注入點和抽氣口位于校準室的兩個極點。校準室上標準CF35法蘭接口用于接參考標準規和被校規等，它們位于與入口和出口連成的軸線相垂直的同一赤道平面內。

圖1　真空比對標準裝置原理圖

3、結論

　　實驗結果表明在300℃的溫度下，連續運行15h后開始逐漸降溫，經過4h的降溫到38℃時，測得極限真空度為4.3×10^-6Pa。在常溫常壓下，裝置從開機到經過1h后，容器真空度為4.82×10^-5 Pa。采用噴吹法檢漏，各CF法蘭接口處漏率均為10^-11 Pa·m³/s量級，薄膜規接口處的漏率為2.0×10^-10 Pa·m³/s。各實驗點的動態穩定均小于1%；膨脹室體積為0.5ml時，平均體積膨脹比為4.717×10^-5；膨脹室體積為5ml時，平均體積膨脹比為3.111×10^-4。

　　該裝置的檢定/校準程序，具有很強的實用性和通用性，特別是針對真空計量中一次檢定多個被檢儀表情況。在基本信息的錄入中可以避免很多人工重復的勞動；在數據處理過程中通過程序實現數據自動運算，自動判定給出結論，并按照一定的模式存儲，從而有效的提高了勞動效率。依托程序框架和其中較通用的模塊，可以較方便擴展到真空等計量專業的自動化檢定/校準中。